Сервисни садржај
|
Тест Итем |
Куотатион Унит |
Тип узорка |
|
Попречни{0}}одељак Обрада и метрологија |
сат (ч) |
Semiconductor samples such as 3D NAND, DRAM, MEMS; other samples requiring large-size (>50µм) обрада |
|
Припрема узорка великих{0}}величина ТЕМ КСС (попречни{1}} пресек) |
сат (ч) |
Исто као горе |
|
ТЕМ ПВ велике-величине (приказ{1}}план) Припрема узорка |
сат (ч) |
Исто као горе |
|
Микрофабрикација (једкање или таложење) |
сат (ч) |
Исто као горе |
|
Анализа одлагања (одлагање) |
сат (ч) |
Анализа одлагања узорка вруће тачке |
Обим услуге
Погледајте детаље услуге, типове узорака
Тестинг Итемс
Погледајте детаље услуге, ставке за тестирање
Тестинг Цицле
Стандардни циклус тестирања је 3 календарска дана. За посебне захтеве можемо дати понуде за различита времена одговора: 48х, 24х и 12х.
Наше предности
Чланови нашег тима на ГРГТЕСТ Метрологи Платформи имају у просеку преко 5 година практичног искуства у електронској микроскопији, што нам омогућава да пружимо прецизне, брзе и професионалне услуге тестирања.
Наше ПФИБ микроскопске цеви нове генерације могу да постигну највећу пропусност и највиши квалитет обраде попречног пресека{0}}и микромашинске обраде.
У комбинацији са завршним полирањем на 500 В, можемо постићи најквалитетније ТЕМ узорке без Га{1}}а.
Popularne oznake: пфиб (јонски сноп фокусиран на плазму), кинески добављач услуга пфиб (јонски сноп фокусиран на плазму)
