Анализа неуспеха

Услуге припреме узорака ФИБ-а-на нивоу напредног процеса и ТЕМ анализе пружају прецизна решења за припрему узорака и структурну анализу за напредне процесне чипове тако што се припрема ФИБ узорака на

ГРГТЕСТ Метрологи пружа професионалне услуге анализе двоструког-снопа фокусираног јонског снопа (ДБ-ФИБ). Популарне услуге тестирања обухватају ТЕМ узорке одсека за напредне процесе (14 нм и ниже),

Трансмисиона електронска микроскопија (ТЕМ) је постала незаменљив аналитички инструмент у области материјала и полупроводника. То је електронски оптички инструмент који користи-електронски сноп

Опрема за цепање плочица и услуге СЕМ снимања су кључна технолошка подршка за науку о материјалима, електронску индустрију и биомедицинска истраживања, а посебно су погодни за посматрање унутрашње

Микроскоп атомске силе Брукер Дименсион ИЦОН6 подржава 12 режима, укључујући контакт, тапкање и тапкање вршне силе, како би задовољио потребе тестирања различитих узорака и обезбедио различите методе

ЕДС је скраћеница од Енерги Дисперсиве Спецтрометер, што је метода анализе Кс-енергетске дисперзивне спектроскопије. Његов принцип се заснива на чињеници да различити елементи емитују карактеристичне

Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etching

ГРГТЕСТ има-софтверска и хардверска решења за ФТ на једном месту и може да пружи клијентима читав низ услуга, укључујући процену технологије тестирања, развој решења за тестирање, развој хардвера за

ГРГТЕСТ је успоставио свеобухватне могућности за анализу материјала, анализу физичких карактеристика, тестирање функционалних перформанси, верификацију поузданости, анализу кварова и процену животног

У савременим комуникационим и дата центрима, оптичка комуникација је постала незаменљива због својих предности велике брзине, великог капацитета и{0}}преноса на велике удаљености. Примена оптичких

ЕСД (електростатичко пражњење) тестирање на нивоу чипа је тест поузданости за интегрисана кола (ИЦ) који се користи за процену способности чипа да се одупре сметњама електростатичког пражњења током

Ова услуга, у складу са стандардом ГБ/Т 40432-2021, спроводи 7 категорија и 20+ екстремне тестове на уграђеним пуњачима (ОБЦ), укључујући температурне циклусе (-40 степени до 85 степени), старење при